Visualization of Surface Molecular Topology under External Stimulation
Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)
Science and Engineering
Kyoto Institute of Technology;Japan Synchrotron Radiation Research Institute
SONO SASAKI
From 23 Jul. 2009, To 31 Mar. 2014, Project Closed
微小角入射X線散乱高速時間分解測定;マイクロビームX線散乱時間分解測定;X線の異常散乱高速時間分解測定;大型放射光施設SPring-8;有機金属錯体/高分子薄膜;表層分子トポロジー;外場刺激;微小角入射小角・広角X線散乱法;放射光を利用した薄膜・表面構造のその場計測;線状高分子の薄膜結晶化キネティクス;時間分割異常小角X線散乱法;スピンコート成膜法;放射光GISAXS・GIWAXS法;有機金属錯体;マイクロビームX線;X線異常分散効果;高分子の薄膜結晶化;成膜プロセス;放射光GISAXS/GIWAXS測定;高分子薄膜;X線マイクロビーム;時間分解測定;動的構造解析;薄膜結晶化挙動;電気化学計測;放射光X線散乱法;マイクロビームX線;GISAXS法;電気化学的特性;薄膜・表面構造;有機分子組織体・高分子薄膜材料;微小角斜入射小角・広角X線散乱;放射光マイクロビーム;局所構造の可視化