基本情報

全学メールアドレス

• 全学メールアドレス

  liu.kunyang.6kkyoto-u.ac.jp

所属学協会

• 自 2024年04月, 至 現在

  情報処理学会
• 自 2023年02月, 至 現在

  電子情報通信学会
• 自 2017年01月, 至 現在

  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

学位

• 2017年09月15日

  早稲田大学修士（工学）
• 2021年04月19日

  早稲田大学博士（工学）

出身大学院・研究科等

• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科博士後期課程情報生産システム工学専攻, 修了
• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科博士前期課程情報生産システム工学専攻, 修了

出身学校・専攻等

• 華南理工大学, 電子情報学部電子情報工学専攻, 卒業

経歴

• 自 2024年02月, 至 現在

  京都大学, 大学院情報学研究科, 助教
• 自 2021年09月, 至 2024年01月

  早稲田大学, 情報生産システム研究センター, 助教
• 自 2021年04月, 至 2021年09月

  早稲田大学, 情報生産システム研究センター, 助手

ID,URL

• ORCID ID

  0000-0002-9328-7076

• J-Global ID

  202101003341081893

researchmap URL

• https://researchmap.jp/kylau

研究

研究分野

• 情報通信, 計算機システム, 集積回路設計
• ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学）, 電子デバイス、電子機器
• 情報通信, 情報セキュリティ, ハードウェアセキュリティ、セキュリティ回路

論文

• Design and Experimental Verification of 0.9-2.6pW 0.1-0.25V 22nm 2-bit Supply-to-Digital Converter Using Always-Activated Supply-Controlled Oscillator and Supply-Dependent-Activation Buffers for Bio-Fuel-Cell-Powered-and-Sensed Time-Stamped Bio-Recording

  Hiroaki Kitaike; Hironori Tagawa; Shufan Xu; Ruilin Zhang; Kunyang Liu; Kiichi Niitsu

  IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2025年

  
• Statistical Model and Transistor Size Effect of Hot Carrier Injection for Stability Reinforced SRAM Physically Unclonable Function

  Shufan Xu; Kunyang Liu; Kiichi Niitsu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2025年

  この論文にアクセスする：

  
• De-Correlation and De-Bias Post-Processing Circuits for True Random Number Generator

  Ruilin Zhang; Haochen Zhang; Xingyu Wang; Ye Ziyang; Kunyang Liu; Shinichi Nishizawa; Kiichi Niitsu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2024年

  
• A 100-Bit-Output Modeling Attack-Resistant SPN Strong PUF with Uniform and High-Randomness Response

  Kunyang Liu; Yichen Tang; Shufan Xu; Ruilin Zhang; Hirofumi Shinohara

  2023 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2023年04月, 査読有り, 筆頭著者

  
• V_SS-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-in

  Kunyang Liu; Yichen Tang; Shufan Xu; Hirofumi Shinohara

  2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023年03月27日, 査読有り, 筆頭著者

  
• Effect of Quadruple Size Transistor on SRAM Physically Unclonable Function Stabilized by Hot Carrier Injection

  Shufan Xu; Kunyang Liu; Yichen Tang; Ruilin Zhang; Hirofumi Shinohara

  2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023年03月27日, 査読有り

  
• A 0.116 pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Static Inverter Selection and Noise Enhancement

  Xingyu Wang; Ruilin Zhang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2023年, 査読有り

  
• A 2.17-pJ/b 5b-Response Attack-Resistant Strong PUF with Enhanced Statistical Performance

  Kunyang Liu; Gen Li; Zihan Fu; Xuanzhen Wang; Hirofumi Shinohara

  ESSCIRC 2022- IEEE 48th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 2022年09月19日, 査読有り, 筆頭著者

  
• Statistical Modeling of SRAM PUF Cell Mismatch Shift Distribution After Hot Carrier Injection Burn-In

  Kunyang Liu; Kiyoshi Takeuchi; Hirofumi Shinohara

  2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2022年03月21日, 査読有り, 筆頭著者

  
• A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

  Ruilin Zhang; Xingyu Wang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, 2022年03月, 査読有り

  
• A 0.116pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator with Static Inverter Selection and Noise Enhancement

  Xingyu Wang; Ruilin Zhang; Yuxin Wang; Kunyang Liu; Xuanzhen Wang; Hirofumi Shinohara

  2022 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2022 - Proceedings, 2022年, 査読有り

  
• A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator with Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

  Ruilin Zhang; Xingyu Wang; Luying Wang; Xinpeng Chen; Fan Yang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  2021 Symposium on VLSI Circuits, 2021年06月13日, 査読有り

  
• 36.3 A Modeling Attack Resilient Strong PUF with Feedback-SPN Structure Having <0.73% Bit Error Rate through In-Cell Hot-Carrier Injection Burn-In

  Kunyang Liu; Zihan Fu; Gen Li; Hongliang Pu; Zhibo Guan; Xingyu Wang; Xinpeng Chen; Hirofumi Shinohara

  Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference, 2021年02月13日, 査読有り, 筆頭著者

  
• An Inverter-Based True Random Number Generator with 4-bit Von-Neumann Post-Processing Circuit

  Xingyu Wang; Hongjie Liu; Ruilin Zhang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2020年08月, 査読有り

  
• A 373-F 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function with 2-D Power-Gated Bit Cells and {V}_{\text{SS } } Bias-Based Dark-Bit Detection

  Kunyang Liu; Yue Min; Xuan Yang; Hanfeng Sun; Hirofumi Shinohara

  IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2020年06月, 査読有り, 筆頭著者

  
• A 0.5-V 2.07-fJ/b 497-F² EE/CMOS Hybrid SRAM Physically Unclonable Function with < 1E-7 Bit Error Rate Achieved through Hot Carrier Injection Burn-in

  Kunyang Liu; Hongliang Pu; Hirofumi Shinohara

  Proceedings of the Custom Integrated Circuits Conference, 2020年03月, 査読有り, 筆頭著者

  
• A 0.5-V Hybrid SRAM Physically Unclonable Function Using Hot Carrier Injection Burn-In for Stability Reinforcement

  Kunyang Liu; Xinpeng Chen; Hongliang Pu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2020年, 査読有り, 筆頭著者

  
• A 373 F ² 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark-Bit Detection Technique

  Kunyang Liu; Yue Min; Xuan Yang; Hanfeng Sun; Hirofumi Shinohara

  2018 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC 2018 - Proceedings, 2018年12月14日, 査読有り, 筆頭著者

  

講演・口頭発表等

• SRAMエントロピー源とSPN構造により100ビット出力空間とモデリング攻撃耐性を両立したストロングPUF

  劉 昆洋; 唐 芸琛; 徐 舒帆; 新津 葵一; 篠原 尋史

  電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般, 2024年04月11日, 招待有り

  
• SRAMウィークPUFに基づいた秘密置換を利用したエッジデバイスセキュリティ向けストロングPUF

  劉 昆洋; 篠原 尋史

  電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般, 2023年04月10日, 招待有り

  
• 情報セキュリティのためのラッチ形静的および動的乱数発生回路

  篠原 尋史; 劉 昆洋; 張 瑞琳; 王 興宇

  電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用, 2021年08月18日, 招待有り

  
• A 373F2 2D-Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark‐Bit Detection Technique

  Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般, 2019年04月22日, 招待有り

  

受賞

• 2025年01月20日

  Best Design Award at ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) 2025
• 2023年04月18日

  2022 VLSI-DAT Best Paper Award（ITRI＆IEEE）
• 2019年11月22日

  ISIPS2019 Presentation Award Selected by IPS Students（早稲田大学）
• 2017年11月15日

  ISIPS2017 Best Paper Award（早稲田大学大学院情報生産システム研究科）
• 2021年02月01日

  2020 Excellent Student Award of The IEEE Fukuoka Section（IEEE Fukuoka Section）
• 2020年11月13日

  ISIPS2020 Session Best Presentation Award（早稲田大学）
• 2018年11月05日

  2018 IEEE SSCS A-SSCC Student Travel Grant Award（IEEE SSCS）

外部資金：科学研究費補助金

• 半導体エージング技術による低消費電力・高安定性IoTセキュリティ基盤回路の研究

  若手研究

  小区分60040:計算機システム関連

  京都大学

  劉 昆洋

  自 2025年04月01日, 至 2028年03月31日, 交付

  PUF;TRNG;ハードウェアセキュリティ;エージング;半導体集積回路

  https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-25K21173/

教育

担当科目

• 自 2025年04月01日, 至 2026年03月31日

  電気電子工学実験

  6201, 前期, 工学部, 2
• 自 2024年04月01日, 至 2025年03月31日

  電気電子工学実験

  6201, 前期, 工学部, 2

学術・社会貢献

学術貢献活動

• 集積回路研究専門委員会専門委員

  企画立案・運営等

  電子情報通信学会, 自 2024年06月01日, 至 現在

  
• Journal of Information Processing編集委員会委員

  企画立案・運営等, 審査・評価

  情報処理学会, 自 2024年06月01日, 至 2026年05月31日

  
• システムとLSIの設計技術研究運営委員会運営委員

  企画立案・運営等

  情報処理学会, 自 2024年04月01日, 至 2026年03月31日

  
• IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers

  査読

  
• IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS

  査読

  
• IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS

  査読

  
• IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS

  査読