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小林 圭

コバヤシ ケイ

工学研究科 電子工学専攻電子物性工学講座 准教授

小林 圭
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    Last Updated :2025/04/29

    基本情報

    協力講座

    • 工学研究科, 工学研究科 電気電子工学科

    学部兼担

    • 工学部

    所属学協会

    • 応用物理学会
    • 日本表面真空学会

    学位

    • 修士（工学）(京都大学)
    • 博士（工学）(京都大学)

    出身大学院・研究科等

    • 京都大学, 大学院工学研究科修士課程電子物性工学専攻, 修了
    • 京都大学, 大学院工学研究科博士後期課程電子物性工学専攻, 修了

    出身学校・専攻等

    • 京都大学, 工学部電子工学科, 卒業

    経歴

    • 自 2016年10月, 至 現在
      京都大学, 大学院工学研究科電子工学専攻, 准教授
    • 自 2017年07月01日
      京都大学工学研究科, 准教授
    • 自 2013年04月, 至 2016年09月
      京都大学, 白眉センター, 特定准教授
    • 自 2010年04月, 至 2013年03月
      京都大学, 産官学連携本部, 助教
    • 自 2007年07月, 至 2010年03月
      京都大学, 産官学連携センター, 助教
    • 自 2007年04月, 至 2007年06月
      京都大学, 国際融合創造センター, 助教
    • 自 2001年05月, 至 2007年03月
      京都大学, 国際融合創造センター, 助手
    • 自 2000年04月, 至 2001年04月
      京都大学, 日本学術振興会特別研究員(PD)

    使用言語

    • 英語
    • 日本語

    ID,URL

    researchmap URL

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      Last Updated :2025/04/29

      研究

      研究キーワード

      • 有機エレクトロニクス
      • 固液界面
      • 原子間力顕微鏡
      • 走査型プローブ顕微鏡

      研究分野

      • ナノテク・材料, ナノバイオサイエンス
      • ナノテク・材料, 薄膜、表面界面物性

      論文

      • Charge injection barrier at the pentacene thin film and electrode interface characterized by time-resolved electrostatic force microscopy
        Tomoharu Kimura; Kei Kobayashi; Yuji Yamagishi; Hirofumi Yamada
        Applied Physics Letters, 2024年12月23日
      • Visualization of molecular chains of P(VDF-TrFE) crystals using force modulation microscopy
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Toshihisa Horiuchi; Kenji Ishida; Kazumi Matsushige
        Polymer Preprints, Japan, 2006年
      • Orientation control and its detection of polymer molecules using AFM (II)
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Toshihisa Horiuchi; Kenji Ishida; Kazumi Matsushige
        Polymer Preprints, Japan, 2006年
      • Exploring the Molecular-Scale Structures at Solid/Liquid Interfaces of Li-Ion Battery Materials: A Force Spectroscopy Analysis with Sparse Modeling
        Yuji Yamagishi; Satoru Ohuchi; Emiko Igaki; Kei Kobayashi
        Nano Letters, 2024年05月29日
      • Nanoscale visualization of fast carrier dynamics in organic thin-film transistors by time-resolved electrostatic force microscopy
        Yuji Yamagishi; Kei Kobayashi; Tomoharu Kimura; Kei Noda; Hirofumi Yamada
        Journal of Applied Physics, 2024年03月28日
      • Protein nanoarrays using the annexin A5 two-dimensional crystal on supported lipid bilayers
        Hiroaki Kominami; Yoshiki Hirata; Hirofumi Yamada; Kei Kobayashi
        Nanoscale Advances, 2023年
      • Morphological and functional characterizations of SnO2 electron extraction layer on transparent conductive oxides in lead-halide perovskite solar cells
        Ayane Murota; Kengo Oka; Ryotaro Hayashi; Kentaro Fujiwara; Takushi Nishida; Kei Kobayashi; Youhei Numata; Kenichi Yamashita
        Applied Physics Letters, 2022年05月09日
      • Structured Water Molecules on Membrane Proteins Resolved by Atomic Force Microscopy
        Shinichiro Ido; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Yoshiki Hirata; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Nano Letters, 2022年03月23日
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      • Acoustically induced light gyration in nickel nanoparticles
        M. K. Zamorskii; K. Nouneh; K. Kobayashi; M. Oyama; J. Ebothe; A. H. Reshak
        OPTICS AND LASER TECHNOLOGY, 2008年04月, 査読有り
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      • δ-BiB3O6:Pr3+:polymer nanocomposites deposited on substrates with silver nanoparticles for nonlinear optics
        Fuks-Janczarek I; Miedzi?ski R; Chrunik M; Majchrowski A; Kobayashi K; Chen X.M; Oyama M; Jaroszewicz L.R; P?pczy?ska M; Wojciechowski A
        Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 2015年09月, 査読有り
      • Nonlinear optical properties of Au nanoparticles on indium-tin oxide substrate
        Kityk, IV; J Ebothe; Fuks-Janczarek, I; AA Umar; K Kobayashi; M Oyama; B Sahraoui
        NANOTECHNOLOGY, 2005年09月, 査読有り
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      • Fundamental and higher eigenmodes of qPlus sensors with a long probe for vertical-lateral bimodal atomic force microscopy
        Yuya Yamada; Takashi Ichii; Toru Utsunomiya; Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Hiroyuki Sugimura
        Nanoscale Advances, 2023年, 査読有り
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      • Molecular-Resolution Imaging of Interfacial Solvation of Electrolytes for Lithium-Ion Batteries by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Yuji Yamagishi; Hiroaki Kominami; Kei Kobayashi; Yuki Nomura; Emiko Igaki; Hirofumi Yamada
        Nano Letters, 2022年12月28日
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      • 脂質膜表面を足場とする膜孔形成タンパク質分子のFM-AFMを用いたその場観察
        平田 芳樹; 木南 裕昭; 小林 圭; 田中 睦生; 黒澤 茂; 山田 啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集, 2019年09月04日
      • 溶液中FM-AFMを用いた有機・生体分子材料表面の水和構造イメージング
        平田 芳樹; 木南 裕昭; 小林 圭; 山田 啓文; 田中 睦生; 黒澤 茂
        バイオイメージング, 2018年08月
      • 溶液中FM-AFMによる細孔形成タンパク質の自己組織化過程の観察
        平田 芳樹; 木南 裕陽; 小林 圭; 田中 睦生; 山田 啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集, 2017年08月25日
      • 炭酸カルシウム結晶の相転移過程における水和構造その場観察
        荒木 優希; 塚本 勝男; 高木 良介; 宮下 知幸; 大藪 範昭; 小林 圭; 山田 啓文
        表面と真空, 2022年11月10日, 査読有り, 招待有り
      • Charge compensation by long-period reconstruction in strongly polar lithium niobate surfaces
        S. Sanna; S. Rode; R. Hoelscher; S. Klassen; C. Marutschke; K. Kobayashi; H. Yamada; W. G. Schmidt; A. Kuehnle
        PHYSICAL REVIEW B, 2013年09月, 査読有り
      • Nanomechanics of self-assembled surfactants revealed by frequency-modulation atomic force microscopy
        Kenichi Umeda; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Nanoscale, 2022年
      • <大学の研究・動向> 分子ナノエレクトロニクス研究の現状
        松重 和美; 山田 啓文; 石田 謙司; 堀内 俊寿; 小林 圭
        Cue : 京都大学電気関係教室技術情報誌, 2004年06月
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      • 液中動作3D-FM-AFMを用いた異種帯電表面上における局所水和構造計測
        梅田 健一; 小林 圭; Zivanovic Lidija; Spijker Peter; Foster Adam S.; 山田 啓文
        表面科学学術講演会要旨集, 2016年
      • Surface charge density measurement of a single protein molecule with a controlled orientation by AFM
        Yuki Yamamoto; Hiroaki Kominami; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Biophysical Journal, 2021年06月, 査読有り
      • Low-Background Tip-Enhanced Raman Spectroscopy Enabled by a Plasmon Thin-Film Waveguide Probe
        Kaifeng Zhang; Yifan Bao; Maofeng Cao; Shin-ichi Taniguchi; Masahiro Watanabe; Takuya Kambayashi; Toshihiro Okamoto; Masanobu Haraguchi; Xiang Wang; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Bin Ren; Takehiro Tachizaki
        Analytical Chemistry, 2021年06月01日, 査読有り
      • Atomic-level nature of solid/liquid interface for energy conversion revealed by frequency modulation atomic force microscopy
        Taketoshi MINATO; Ken-ichi Umeda; Kei Kobayashi; Yuki Araki; Hiroaki Konishi; Zempachi Ogumi; Takeshi Abe; Hiroshi ONISHI; Hirohumi Yamada
        Japanese Journal of Applied Physics, 2021年05月10日, 査読有り
      • Molecular-Scale Solvation Structures of Ionic Liquids on a Heterogeneously Charged Surface
        Kenichi Umeda; Kei Kobayashi; Taketoshi Minato; Hirofumi Yamada
        The Journal of Physical Chemistry Letters, 2020年10月01日, 査読有り
      • Experimental study on molecular fluctuations of biomolecules by force spectroscopy
        Yuki Yamamoto; Hiroaki Kominami; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Japanese Journal of Applied Physics, 2020年06月01日, 査読有り
      • Atomic-Scale Three-Dimensional Local Solvation Structures of Ionic Liquids
        Kenichi Umeda; Kei Kobayashi; Taketoshi Minato; Hirofumi Yamada
        The Journal of Physical Chemistry Letters, 2020年02月04日, 査読有り
      • Molecular-scale visualization and surface charge density measurement of Z-DNA in aqueous solution
        Hiroaki Kominami; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Scientific Reports, 2019年12月, 査読有り
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      • Atomic-Level Viscosity Distribution in the Hydration Layer
        K. Umeda; K. Kobayashi; T. Minato; H. Yamada
        Physical Review Letters, 2019年03月, 査読有り
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      • Investigation of Local Hydration Structures of Alkanethiol Self-Assembled Monolayers with Different Molecular Structures by FM-AFM
        A. Fujita; K. Kobayashi; H. Yamada
        Langmuir, 2018年11月, 査読有り
      • Atomic-Scale 3D Local Hydration Structures Influenced by Water-Restricting Dimensions
        Kenichi Umeda; Kei Kobayashi; Taketoshi Minato; Hirofumi Yamada
        Langmuir, 2018年08月07日, 査読有り
      • Immunoactivity of self-assembled antibodies investigated by atomic force microscopy
        Hiroaki Kominami; Kei Kobayashi; Shinichiro Ido; Hirokazu Kimiya; Hirofumi Yamada
        RSC Advances, 2018年08月, 査読有り
      • Atomic-Scale Hydration Structures on a Heterogeneously Charged Surface Revealed by FM-AFM and MD Simulation
        Kenichi Umeda; Lidija Zivanovic; Kei Kobayashi; Peter Spijker; Adam S. Foster; Hirofumi Yamada
        Vacuum and Surface Science, 2018年06月, 査読有り
      • Local carrier dynamics in organic thin film transistors investigated by time-resolved Kelvin probe force microscopy
        Yuji Yamagishi; Kei Kobayashi; Tomoharu Kimura; Kei Noda; Hirofumi Yamada
        Organic Electronics: physics, materials, applications, 2018年06月01日, 査読有り
      • Practical aspects of kelvin probe force microscopy in liquids
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Springer Series in Surface Sciences, 2018年, 査読有り
      • Atomic-resolution three-dimensional hydration structures on a heterogeneously charged surface
        Kenichi Umeda; Lidija Zivanovic; Kei Kobayashi; Juha Ritala; Hiroaki Kominami; Peter Spijker; Adam S. Foster; Hirofumi Yamada
        Nature Communications, 2017年12月01日, 査読有り
      • Near-field light detection of a photo induced force by atomic force microscopy with frequency modulation
        Nobuo Satoh; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017年08月, 査読有り
      • Visualization of Au Nanoparticles Buried in a Polymer Matrix by Scanning Thermal Noise Microscopy
        Atsushi Yao; Kei Kobayashi; Shunta Nosaka; Kuniko Kimura; Hirofumi Yamada
        SCIENTIFIC REPORTS, 2017年02月, 査読有り
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      • Surface potential measurements of organic thin-film transistors by Kelvin-Probe force microscopy
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Journal of the Vacuum Society of Japan, 2017年, 査読有り
      • Using dynamic force microscopy with piezoelectric cantilever for indentation and high-speed observation
        Satoh Nobuo; Nakahara Masayuki; Kobayashi Kei; Watanabe Shunji; Fujii Toru; Matsushige Kazumi; Yamada Hirofumi
        IEICE NONLINEAR THEORY AND ITS APPLICATIONS, 2017年, 査読有り
      • Direct investigations of the interface impedance of organic field-effect transistors with self-assembled-monolayer-modified electrodes
        Tomoharu Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        ORGANIC ELECTRONICS, 2016年11月, 査読有り
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      • Visualization of subsurface nanoparticles in a polymer matrix using resonance tracking atomic force acoustic microscopy and contact resonance spectroscopy
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Atsushi Yao; Hirofumi Yamada
        NANOTECHNOLOGY, 2016年10月, 査読有り
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      • Twin-Probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection Using Vertically Incident Lasers by Two Beam Splitter
        Nobuo Satoh; Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Takashi Komatsubara; Seiji Higuchi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS IN JAPAN, 2016年09月, 査読有り
      • Molecular Resolution of the Water Interface at an Alkali Halide with Terraces and Steps
        Fumiaki Ito; Kei Kobayashi; Peter Spijker; Lidija Zivanovic; Kenichi Umeda; Tarmo Nurmi; Nico Holmberg; Kari Laasonen; Adam S. Foster; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, 2016年09月, 査読有り
      • Optical and mechanical detection of near-field light by atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
        Nobuo Satoh; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fujii; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2016年08月, 査読有り
      • Visualization of trapped charges being ejected from organic thin-film transistor channels by Kelvin-probe force microscopy during gate voltage sweeps
        Yuji Yamagishi; Kei Kobayashi; Kei Noda; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016年02月, 査読有り
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      • Local impedance measurement of an electrode/single-pentacene-grain interface by frequency-modulation scanning impedance microscopy
        Tomoharu Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2015年08月, 査読有り
      • Surface potential measurement of fullerene derivative/copper phthalocyanine on indium tin oxide electrode by Kelvin probe force microscopy
        Nobuo Satoh; Michio Yamaki; Kei Noda; Shigetaka Katori; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2015年08月, 査読有り
      • Influence of Al-doped ZnO and Ga-doped ZnO substrates on third harmonic generation of gold nanoparticles
        I. V. Kityk; N. S. AlZayed; Kei Kobayashi; Xiaomei Chen; Munetaka Oyama; A. M. El-Naggar; A. A. Albassam
        PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES, 2015年07月, 査読有り
      • Molecular-scale quantitative charge density measurement of biological molecule by frequency modulation atomic force microscopy in aqueous solutions
        Kenichi Umeda; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        NANOTECHNOLOGY, 2015年07月, 査読有り
      • 直下入射方式の光てこ変位検出によるツインプローブ原子間力顕微鏡
        佐藤 宣夫; 常見 英加; 小林 圭; 小松原 隆司; 樋口 誠司; 松重 和美; 山田 啓文
        電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌）, 2015年04月
      • Atom-Resolved Analysis of an Ionic KBr(001) Crystal Surface Covered with a Thin Water Layer by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Toyoko Arai; Masashi Koshioka; Kouhei Abe; Masahiko Tomitori; Ryohei Kokawa; Masahiro Ohta; Hirofumi Yamada; Kei Kobayashi; Noriald Oyabu
        LANGMUIR, 2015年04月, 査読有り
      • Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy
        Nobuo Satoh; Shigetaka Katori; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS, 2015年02月, 査読有り
      • Interlayer Resistance and Edge-Specific Charging in Layered Molecular Crystals Revealed by Kelvin-Probe Force Microscopy
        Yuji Yamagishi; Kei Noda; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, 2015年02月, 査読有り
      • Recent progress in frequency modulation atomic force microscopy in liquids
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        NanoScience and Technology, 2015年, 査読有り
      • Surface potential investigation of fullerene derivative film on platinum electrode under UV irradiation by Kelvin probe force microscopy using a piezoelectric cantilever
        Nobuo Satoh; Shigetaka Katori; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fujii; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2015年, 査読有り
      • Accurate formula for dissipative interaction in frequency modulation atomic force microscopy
        Kazuhiro Suzuki; Kei Kobayashi; Aleksander Labuda; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2014年12月, 査読有り
      • Scanning near-feild optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
        Nobuo Satoh; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fujii; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2014年12月, 査読有り
      • Direct Observation of the Influence of Additives on Calcite Hydration by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Yuki Araki; Katsuo Tsukamoto; Ryosuke Takagi; Tomoyuki Miyashita; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        CRYSTAL GROWTH & DESIGN, 2014年12月, 査読有り
      • Nonlinear optical features of δ-BiB3O6/PVA polymer nanocomposites deposited on aluminum-doped zinc oxide substrates containing Ag nanoparticles
        Fuks-Janczarek I; Kobayashi K; Chen X.M; Oyama M; Wojciechowski A; Pepczyńska M; Chrunik M; Majchrowski A; Jaroszewicz L.R; Klosowicz S; Kityk I.V
        Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures, 2014年11月, 査読有り
      • Practical aspects of Kelvin-probe force microscopy at solid/liquid interfaces in various liquid media
        Ken-ichi Umeda; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Yoshiki Hirata; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2014年10月, 査読有り
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      • Surface potential measurement of fullerene/copper phthalocyanine films on indium tin oxide electrode by Kelvin probe force microscopy
        Nobuo Satoh; Shigetaka Katori; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2014年05月, 査読有り
      • High-resolution imaging of biological molecules by frequency modulation atomic force microscopy
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        Atomic Force Microscopy in Nanobiology, 2014年04月30日, 査読有り
      • Immunoactive two-dimensional self-assembly of monoclonal antibodies in aqueous solution revealed by atomic force microscopy
        Shinichiro Ido; Hirokazu Kimiya; Kei Kobayashi; Hiroaki Kominami; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        NATURE MATERIALS, 2014年03月, 査読有り
      • Molecular-scale investigations of structures and surface charge distribution of surfactant aggregates by three-dimensional force mapping
        Kazuhiro Suzuki; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2014年02月, 査読有り
      • Photothermal excitation setup for a modified commercial atomic force microscope
        Holger Adam; Sebastian Rode; Martin Schreiber; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Angelika Kuehnle
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2014年02月, 査読有り
      • 周波数変調原子間力顕微鏡による生体分子の高分解能観察
        小林 圭; 山田 啓文
        電気学会誌, 2014年
      • Influence of grain boundary on electrical properties of organic crystalline grains investigated by dual-probe atomic force microscopy
        Masaharu Hirose; Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2013年10月, 査読有り
      • Imaging of Au nanoparticles deeply buried in polymer matrix by various atomic force microscopy techniques
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Ultramicroscopy, 2013年10月, 査読有り
      • Visualization of Charge Injection Processes in Polydiacetylene Thin Film Grains by Dual-Probe Atomic Force Microscopy
        Masaharu Hirose; Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2013年08月, 査読有り
      • Development of multi-environment dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with vertically incident laser beams
        Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Masaharu Hirose; Yoshiko Takenaka; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2013年08月, 査読有り
      • Erratum: Investigation of electrical transport in anodized single TiO 2 nanotubes (Applied Physics Letters (2013) 102 (043105))
        Masashi Hattori; Kei Noda; Tatsuya Nishi; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        Applied Physics Letters, 2013年07月15日, 査読有り
      • Visualization of hydration layers on muscovite mica in aqueous solution by frequency-modulation atomic force microscopy
        Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Kenjiro Kimura; Shinichiro Ido; Kazuhiro Suzuki; Takashi Imai; Katsunori Tagami; Masaru Tsukada; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2013年05月, 査読有り
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      • Analysis of capacitive force acting on a cantilever tip at solid/liquid interfaces
        Ken-Ichi Umeda; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Yoshiki Hirata; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Journal of Applied Physics, 2013年04月, 査読有り
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      • Beyond the Helix Pitch: Direct Visualization of Native DNA in Aqueous Solution
        Shinichiro Ido; Kenjiro Kimura; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Masaru Tsukada; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        ACS NANO, 2013年02月, 査読有り
      • Monotonic Damping in Nanoscopic Hydration Experiments
        Aleksander Labuda; Kei Kobayashi; Kazuhiro Suzuki; Hirofumi Yamada; Peter Gruetter
        PHYSICAL REVIEW LETTERS, 2013年02月, 査読有り
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      • Investigation of electrical transport in anodized single TiO2 nanotubes
        Masashi Hattori; Kei Noda; Tatsuya Nishi; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        Applied Physics Letters, 2013年01月28日, 査読有り
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      • Multi-probe atomic force microscopy using piezo-resistive cantilevers and interaction between probes
        N. Satoh; E. Tsunemi; K. Kobayashi; K. Matsushige; H. Yamada
        e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2013年01月, 査読有り
      • Local potential profiling of operating carbon nanotube transistor using frequency-modulation high-frequency electrostatic force microscopy
        Masanao Ito; Kei Kobayashi; Yuji Miyato; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2013年01月, 査読有り
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      • Direct actuation of cantilever in aqueous solutions by electrostatic force using high-frequency electric fields
        Ken-ichi Umeda; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2012年09月, 査読有り
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      • Atomic-resolution imaging of the polar (0001?) surface of LiNbO 3 in aqueous solution by frequency modulation atomic force microscopy
        S. Rode; R. Holscher; S. Sanna; S. Klassen; K. Kobayashi; H. Yamada; W.G. Schmidt; A. Kuhnle
        Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics, 2012年08月29日, 査読有り
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      • Atomic-Resolution Imaging of Aragonite (001) Surface in Water by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Yuki Araki; Katsuo Tsukamoto; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2012年08月, 査読有り
      • Resistive Switching Effects in Metallic Nanogap Electrode Fabricated by Electroless Gold Plating
        Yasuhisa Naitoh; Shuhei Takeshita; Daiki Ishida; Eiji Ohmura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Yutaka Majima
        APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2012年08月, 査読有り
      • Investigations of Local Electrical Characteristics of a Pentacene Thin Film by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy
        Tomoharu Kimura; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2012年08月, 査読有り
      • Retrofitting an atomic force microscope with photothermal excitation for a clean cantilever response in low Q environments
        Aleksander Labuda; Kei Kobayashi; Yoichi Miyahara; Peter Gruetter
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2012年05月, 査読有り
      • Fabrication of glycerol liquid droplet array by nano-inkjet printing method
        Kiyohiro Kaisei; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2012年04月, 査読有り
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      • Real-time investigation on photocatalytic oxidation of gaseous methanol with nanocrystalline WO3-TiO2 composite films
        Shivaji B. Sadale; Kei Noda; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        THIN SOLID FILMS, 2012年03月, 査読有り
      • Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe
        Yonkil Jeong; Masato Hirade; Ryohei Kokawa; Hirofumi Yamada; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Toyoko Arai; Akira Sasahara; Masahiko Tomitori
        CURRENT APPLIED PHYSICS, 2012年03月, 査読有り
      • Atomic-Resolution Imaging of Graphite-Water Interface by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Kazuhiro Suzuki; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2011年12月, 査読有り
      • Intricate photocatalytic decomposition behavior of gaseous methanol with nanocrystalline tungsten trioxide films in high vacuum
        Shivaji B. Sadale; Kei Noda; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige
        APPLIED SURFACE SCIENCE, 2011年09月, 査読有り
      • Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imaging in liquid environment
        S. Rode; R. Stark; J. Lubbe; L. Troger; J. Schutte; K. Umeda; K. Kobayashi; H. Yamada; A. Kuhnle
        Review of Scientific Instruments, 2011年07月, 査読有り
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      • Surface Potential Measurement of Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum and Bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl]benzidine Thin Films Fabricated on Indium-Tin Oxide by Kelvin Probe Force Microscopy
        Shigetaka Katori; Nobuo Satoh; Masayuki Yahiro; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige; Shizuo Fujita
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2011年07月, 査読有り
      • Comparison of photothermal and piezoacoustic excitation methods for frequency and phase modulation atomic force microscopy in liquid environments
        A. Labuda; K. Kobayashi; D. Kiracofe; K. Suzuki; P. H. Gruetter; H. Yamada
        AIP ADVANCES, 2011年06月, 査読有り
      • Surface potential measurement of organic thin film on metal electrodes by dynamic force microscopy using a piezoelectric cantilever
        Nobuo Satoh; Shigetaka Katori; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fujii; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2011年06月, 査読有り
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      • Highly Sensitive Electrostatic Force Detection Using Small Amplitude Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy in the Second Flexural Mode
        K. Nishi; Y. Hosokawa; K. Kobayashi; K. Matsushige; H. Yamada
        e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2011年04月, 査読有り
      • Effect of Trapped Charges on Local Potential Measurement of Carbon Nanotubes Using Frequency-Modulation Kelvin-Probe Force Microscopy
        M. Ito; Y. Hosokawa; R. Nishi; Y. Miyato; K. Kobayashi; K. Matsushige; H. Yamada
        e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 2011年04月, 査読有り
      • Nanoscale liquid droplet deposition using the ultrasmall aperture on a dynamic mode AFM tip
        Kiyohiro Kaisei; Nobuo Satoh; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        NANOTECHNOLOGY, 2011年04月, 査読有り
      • <大学の研究・動向>環境調和型エレクトロニクスの現状と展開 : 分子系エレクトロニクスおよび電気自動車研究
        松重 和美; 山田 啓文; 野田 啓; 小林 圭
        Cue : 京都大学電気関係教室技術情報誌, 2011年03月
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      • Development of dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with obliquely incident laser beams
        Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011年03月, 査読有り
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      • Reduction of frequency noise and frequency shift by phase shifting elements in frequency modulation atomic force microscopy
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011年03月, 査読有り
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      • Resistive switching effects in single metallic tunneling junction with nanometer-scale gap
        Takahiro Mizukami; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2011年02月, 査読有り
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      • Hydrogen production from gas phase photocatalytic decomposition of methanol using Pt-supported nanocrystalline WO3 films
        Shivaji B. Sadale; Kei Noda; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige
        PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 8, NO 2, 2011年, 査読有り
      • A procedure to determine the optimum imaging parameters for atomic/molecular resolution frequency modulation atomic force microscopy (vol 81, 093701, 2010)
        Yoshihiro Hosokawa; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011年01月, 査読有り
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      • Gas phase photocatalytic decomposition of alcohols with titanium dioxide nanotube arrays in high vacuum
        Masashi Hattori; Kei Noda; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige
        PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 8, NO 2, 2011年, 査読有り
      • High efficiency laser photothermal excitation of microcantilever vibrations in air and liquids
        Daniel Kiracofe; Kei Kobayashi; Aleksander Labuda; Arvind Raman; Hirofumi Yamada
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011年01月, 査読有り
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      • Frequency noise in frequency modulation atomic force microscopy (vol 80, 043708, 2009)
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2010年12月, 査読有り
      • Aqueous Solution Structure over alpha-Al2O3(01(1)over-bar2) Probed by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy
        Takumi Hiasa; Kenjiro Kimura; Hiroshi Onishi; Masahiro Ohta; Kazuyuki Watanabe; Ryohei Kokawa; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, 2010年12月, 査読有り
      • A procedure to determine the optimum imaging parameters for atomic/molecular resolution frequency modulation atomic force microscopy
        Yoshihiro Hosokawa; Kei Kobayashi; Noriaki Oyabu; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2010年09月, 査読有り
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      • Investigations of Local Electrical Properties of Pentacene Thin Films by Dual-Probe Atomic Force Microscopy
        Masaharu Hirose; Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年08月, 査読有り
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      • Development of High-Resolution Imaging of Solid-Liquid Interface by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Katsuyuki Suzuki; Shin-ichi Kitamura; Shukichi Tanaka; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年08月, 査読有り
      • Near-field light detection by conservative and dissipative force modulation methods using a piezoelectric cantilever
        Nobuo Satoh; Takeshi Fukuma; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fujii; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2010年06月, 査読有り
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      • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by FM-AFM
        Ken Nagashima; Masayuki Abe; Seizo Morita; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Masahiro Ohta; Ryohei Kokawa; Ryota Murai; Hiroyoshi Matsumura; Hiroaki Adachi; Kazufumi Takano; Satoshi Murakami; Tsuyoshi Inoue; Yusuke Mori
        J. Vac. Sci. Technol. B, 2010年05月
      • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy
        Nagashima Ken; Abe Masayuki; Morita Seizo; Oyabu Noriaki; Kobayashi Kei; Yamada Hirofumi; Ohta Masahiro; Kokawa Ryohei; Murai Ryota; Matsumura Hiroyoshi; Adachi Hiroaki; Takano Kazufumi; Murakami Satoshi; Inoue Tsuyoshi; Mori Yusuke
        JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2010年05月, 査読有り
      • Visualization of anisotropic conductance in polydiacetylene crystal by dual-probe frequency-modulation atomic force microscopy/Kelvin-probe force microscopy
        Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2010年05月, 査読有り
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      • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy
        Ken Nagashima; Masayuki Abe; Seizo Morita; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Masahiro Ohta; Ryohei Kokawa; Ryota Murai; Hiroyoshi Matsumura; Hiroaki Adachi; Kazufumi Takano; Satoshi Murakami; Tsuyoshi Inoue; Yusuke Mori
        JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2010年05月, 査読有り
      • Visualizing water molecule distribution by atomic force microscopy
        Kenjiro Kimura; Shinichiro Ido; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Yoshiki Hirata; Takashi Imai; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2010年05月, 査読有り
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      • Fabrication of ionic liquid thin film by nano-inkjet printing method using atomic force microscope cantilever tip
        Kiyohiro Kaisei; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        ULTRAMICROSCOPY, 2010年05月, 査読有り
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      • Visualization of anisotropic conductance in polydiacetylene crystal by dual-probe frequency-modulation atomic force microscopy/Kelvin-probe force microscopy
        Eika Tsunemi; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Journal of Vacuum Science and Technology B:Nanotechnology and Microelectronics, 2010年, 査読有り
      • Submolecular-scale Investigations on metal-phthalocyanine monolayers by frequency modulation atomic force microscopy
        Takashi Ichii; Takeshi Fukuma; Tadashi Yoda; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年01月, 査読有り
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      • Surface Potential Investigation of Carbon Nanotube Field-Effect Transistor by Point-by-Point Atomic Force Microscope Potentiometry
        Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年, 査読有り
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      • Electrospray induced ferroelectricity in poly(vinylidene fluoride) thin films
        Ivo B. Rietveld; Kei Kobayashi; Takuya Honjo; Kenji Ishida; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY, 2010年, 査読有り
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      • Position Control and Electrical Characterization of Single-Walled Carbon Nanotubes Debundled by Density Gradient Ultracentrifugation
        Katsuhiro Kaneko; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年, 査読有り
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      • High-Resolution Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids Using Electrostatic Excitation Method
        Ken-ichi Umeda; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Yoshiki Hirata; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2010年, 査読有り
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      • Ionic Liquid Thin Film Fabrication Using Nano-Inkjet Printing Method
        Kiyohiro Kaisei; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2010年, 査読有り
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      • Process parameters for fast production of ultra-thin polymer film with electrospray deposition under ambient conditions
        Ivo B. Rietveld; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        JOURNAL OF COLLOID AND INTERFACE SCIENCE, 2009年11月, 査読有り
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      • Molecular Resolution Imaging of Protein Molecules in Liquid Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Hirofumi Yamada; Kei Kobayashi; Takeshi Fukuma; Yoshiki Hirata; Teruyuki Kajita; Kazumi Matsushige
        APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2009年09月, 査読有り
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      • Reproducible noncontact force spectroscopy for studying molecules
        Yoshihiro Hosokawa; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2009年09月, 査読有り
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      • Controlling chaos in dynamic-mode atomic force microscope
        Kohei Yamasue; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige; Takashi Hikihara
        PHYSICS LETTERS A, 2009年08月, 査読有り
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      • Solution-TiO2 Interface Probed by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy
        Takumi Hiasa; Kenjiro Kimura; Hiroshi Onishi; Masahiro Ohta; Kazuyuki Watanabe; Ryohei Kokawa; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2009年08月, 査読有り
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      • Frequency noise in frequency modulation atomic force microscopy
        Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2009年04月, 査読有り
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      • True Atomic-Resolution Imaging of (10(1)over-bar4) Calcite in Aqueous Solution by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
        Sebastian Rode; Noriaki Oyabu; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Angelika Kuehnle
        LANGMUIR, 2009年03月, 査読有り
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      • Molecular-resolution imaging of lead phthalocyanine molecules by small amplitude frequency modulation atomic force microscopy using second flexural mode
        Takashi Ichii; Yoshihiro Hosokawa; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2009年03月, 査読有り
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      • Electrospray deposition producing ultra-thin polymer films with a regular surface structure
        Ivo B. Rietveld; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        SOFT MATTER, 2009年, 査読有り
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      • Small amplitude frequency modulation atomic force microscopy of lead phthalocyanine molecules using cantilever with very high spring constant
        Yoshihiro Hosokawa; Takashi Ichii; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2008年07月, 査読有り
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      • Electrospray deposition of photoresist: A low impact method for the fabrication of multilayered films
        Ivo B. Rietveld; Naotoshi Suganuma; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        MACROMOLECULAR MATERIALS AND ENGINEERING, 2008年05月, 査読有り
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      • Surface Potential Evaluations of Ferritin Nanodots by Kelvin Force Microscopy
        S.Yamamoto; K. Kobayashi; H. Yamada; H. Yoshioka; Y.Uraoka; T.Fuyuki; M. Okuda; I.Yamashita
        Journal of Scann Pobe Microsc. vol. 3, 1-6, 2008年04月01日
      • Submolecular resolution viscoelastic imaging of a poly(p-toluene-sulfonate) single crystal using force modulation microscopy
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        NANOTECHNOLOGY, 2008年02月, 査読有り
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      • Effect of ferroelectric/metal interface structure on polarization reversal
        Satoshi Horie; Kenji Ishida; Shuichiro Kuwajima; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushge
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2008年02月, 査読有り
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      • Piezoresistive properties of carbon nanotubes under radial force investigated by atomic force microscopy
        Taichi Nishio; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2008年02月, 査読有り
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      • The effect of local polarized domains of ferroelectric P(VDF/TrFE) copolymer thin film on a carbon nanotube field-effect transistor
        Taichi Nishio; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kenji Ishida; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        NANOTECHNOLOGY, 2008年01月, 査読有り
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      • High resolution molecular chain imaging of a poly(vinylidenefluoride-trifluoroethylene) crystal using force modulation microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Nanotechnology, 2007年08月01日, 査読有り
      • Real-time detection of photocatalytic hydrogen production for platinized titanium dioxide thin films in high vacuum
        Kei Noda; Masashi Hattori; Kouichi Amari; Kei Kobayashi; Toshihisa Horiuchi; Kazurni Matsushige
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS, 2007年08月, 査読有り
      • Multi-probe atomic force Microscopy with optical beam deflection method
        Eika Tsunemi; Nobuo Satoh; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS, 2007年08月, 査読有り
      • Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers
        Nobuo Satoh; Eika Tsunemi; Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Shunji Watanabe; Toru Fuji; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS, 2007年08月, 査読有り
      • Investigation of molecular chain orientation change of polymer crystals in phase transitions by friction anisotropy measurement
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        LANGMUIR, 2007年04月, 査読有り
      • Surface potential investigation on single wall carbon nanotubes by Kelvin probe force microscopy and atomic force microscope potentiometry
        Yuji Miyato; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        NANOTECHNOLOGY, 2007年02月, 査読有り
      • Noncontact-mode scanning capacitance force microscopy towards quantitative two-dimensional carrier profiling on semiconductor devices
        Kenjiro Kimura; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Koji Usuda; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2007年02月, 査読有り
      • Model supported morphology control of electrospray deposited poly(vinylidene fluoride) film
        Ivo B. Rietveld; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        MACROMOLECULAR SYMPOSIA, 2007年, 査読有り
      • Improving sensitivity in electrostatic force detection utilizing cantilever with tailored resonance modes
        Kenjiro Kimura; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        APPLIED PHYSICS LETTERS, 2007年01月, 査読有り
      • Electrospray deposition, model, and experiment: Toward general control of film morphology
        Ivo B. Rietveld; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B, 2006年11月, 査読有り
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      • Morphology control of poly(vinylidene fluoride) thin film made with electrospray
        I.B. Rietveld; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Journal of Colloid and Interface Science, 2006年06月15日, 査読有り
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      • Two-dimensional carrier profiling on operating Si metal-oxide semiconductor field-effect transistor by scanning capacitance microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige; K. Usuda
        Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2006年05月, 査読有り
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      • Study on orientation mechanisms of poly(vinylidenefluoride-trifluoroethylene) molecules aligned by atomic force microscopy
        Kuniko Kimura; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Toshihisa Horiuchi; Kenji Ishida; Kazumi Matsushige
        APPLIED SURFACE SCIENCE, 2006年05月, 査読有り
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      • Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy at High Cantilever Resonance Frequencies using the Heterodyne Optical Beam Deflection Method
        Takeshi Fukuma; Kenjiro Kimura; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada; Hirofumi Yamada
        Review of Scientific Instruments, 2005年12月, 査読有り
      • Scanning capacitance force microscopy imaging of metal-oxide-semiconductor field effect transistors
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige; K. Usuda
        Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2005年07月, 査読有り
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      • True atomic resolution in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy
        Takeshi Fukuma; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Applied Physics Letters, 2005年07月, 査読有り
      • Increase in carrier mobility of organic ultrathin-film transistor with increasing molecular layers investigated by Kelvin probe force microscopy
        T. Miyazaki; K. Kobayashi; K. Ishida; S. Hotta; T. Horiuchi; K. Matsushige; H. Yamada
        Journal of Applied Physics, 2005年06月15日, 査読有り
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      • Self-Assembled Monolayers of Alkanethiol and Fluoroalkanethiol Investigated by Noncontact Atomic Force Microscopy
        T. Ichii; M. Urabe; T. Fukuma; K. Kobayashi; K. Matsushige; H. Yamada
        Jpn. J. Appl. Phys., 2005年06月, 査読有り
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      • Development of low noise cantilever deflection sensor for multienvironment frequency-modulation atomic force microscopy
        Takeshi Fukuma; Masayuki Kimura; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Review of Scientific Instruments, 2005年05月, 査読有り
      • True molecular resolution in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy
        Takeshi Fukuma; Kei Kobayashi; Kazumi Matsushige; Hirofumi Yamada
        Applied Physics Letters, 2005年05月, 査読有り
      • Local surface potential measurements of carbon nanotube FETs by Kelvin probe force microscopy
        Y. Miyato; K. Kobayashi; K. Matsushige; H. Yamada
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2005年04月, 査読有り
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      • Molecular-scale investigations of semi-insulating polymer single crystals by noncontact atomic force microscopy
        T. Ichii; H. Kawabata; T. Fukuma; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Nanotechnology, 2005年03月, 査読有り
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      • Study on molecular chain orientation in edge-on crystals of vinylidenefluoride-trifluoroethylene copolymer using lateral modulation friction force microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Ishida; K. Matsushige
        Polymer Preprints, Japan, 2005年, 査読有り
      • True-molecular resolution imaging by frequency modulation atomic force microscopy in various environments
        T. Fukuma; T. Ichii; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Appl. Phys. Lett., 2005年01月, 査読有り
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      • Dynamic force microscopy at high cantilever resonance frequencies using heterodyne optical beam deflection method
        FUKUMA T; KIMURA K; KOBAYASHI K; MATSUSHIGE K; YAMADA H
        Applied Physics Letters, 2004年12月, 査読有り
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      • Orientation Control of High-Density Polyethylene Molecular Chains Using Atomic Force Microscope
        Kimura Kuniko; Kobayashi Kei; Yamada Hirofumi; Horiuchi Toshihisa; Ishida Kenji; Matsushige Kazumi
        Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters, 2004年11月01日
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      • Surface potential measurements by the dissipative force modulation method
        FUKUMA T; KOBAYASHI K; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Review of Scientific Instruments, 2004年11月, 査読有り
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      • Investigations of nanoparticles by scanning near-field optical microscopy combined with kelvin probe force microscopy using a piezoelectric cantilever
        N. Satoh; K. Kobayashi; S. Watanabe; T. Fujii; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2004年07月, 査読有り
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      • Orientation control of molecular chains in polymers using atomic force microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Ishida; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2004年07月, 査読有り
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      • Noncontact Atomic Force Microscopy Investigation of Phase-Separated Alkanethiol Self-Assembled Monolayers with Different Head Groups
        T. Ichii; T. Fukuma; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Jpn. J. Appl. Phys., 2004年07月, 査読有り
      • Submolecular-Resolution Studies on Metal-Phthalocyanines by Noncontact Atomic Force Microscopy
        Tadashi Yoda; Takashi Ichii; Takeshi Fukuma; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        Jpn. J. Appl. Phys., 2004年07月, 査読有り
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      • Structures and electrical properties of ferroelectric copolymer ultrathin films
        K. Kobayashi; H. Masuda; H. Yamada; K. Matsushige
        European Polymer Journal, 2004年05月, 査読有り
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      • Orientation control of ferroelectric polymer molecules using contact-mode AFM
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Ishida; K. Matsushige
        European Polymer Journal, 2004年05月, 査読有り
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      • Noncontact atomic force microscopy study of copper-phthalocyanines: Submolecular-scale contrasts in topography and energy dissipation
        FUKUMA T; KOBAYASHI K; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Journal of Applied Physics, 2004年05月, 査読有り
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      • Molecular-scale noncontact atomic force microscopy contrasts in topography and energy dissipation on c(4×2) superlattice structures of alkanethiol self-assembled monolayers
        T. Fukuma; T. Ichii; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        J. Appl. Phys., 2004年02月, 査読有り
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      • Surface potential measurements of phase-separated alkanethiol self-assembled monolayers by non-contact atomic force microscopy
        T. Ichii; T. Fukuma; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Nanotechnology, 2004年02月, 査読有り
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      • Nanoscale electrical properties of molecular films in the vicinity of platinum ultrathin film electrode
        T. Miyazaki; K. Kobayashi; K. Ishida; S. Hotta; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2003年07月, 査読有り
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      • Nanoscale investigation of optical and electrical properties by dynamic-mode atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
        N. Satoh; K. Kobayashi; S. Watanabe; T. Fujii; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2003年07月, 査読有り
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      • Orientation control of poly(vinylidenefluoride-trifluoroethylene) crystals and molecules using atomic force microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Ishida; K. Matsushige
        Applied Physics Letters, 2003年06月09日, 査読有り
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      • Fabrication of nanogap electrodes using ultrathin metal film
        T. Miyazaki; K. Kobayashi; K. Ishida; S. Hotta; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2003年06月, 査読有り
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      • Two-dimensional dopant profiling by scanning capacitance force microscopy
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 2003年03月31日, 査読有り
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      • Effect of water adsorption on microscopic friction force on SrTiO3(001)
        K. Iwahori; S. Watanabe; M. Kawai; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Journal of Applied Physics, 2003年03月15日, 査読有り
      • Phase-separated alkanethiol self-assembled monolayers investigated by non-contact AFM
        T. Ichii; T. Fukuma; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 2003年03月, 査読有り
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      • Investigations of Local Surface Properties by SNOM Combined with KFM Using a PZT Cantilever(Special Issue on Near-Field Optics and Its Applications)
        SATOH Nobuo; WATANABE Shunji; FUJII Toru; KOBAYASHI Kei; YAMADA Hirofumi; MATSUSHIGE Kazumi
        IEICE transactions on electronics, 2002年12月01日
      • Dopant profiling on semiconducting sample by scanning capacitance force microscopy
        K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Applied Physics Letters, 2002年09月30日, 査読有り
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      • Molecular-scale non-contact AFM studies of ferroelectric organic thin films epitaxially grown on alkali halides
        FUKUMA T; KOBAYASHI K; NODA K; ISHIDA K; HORIUCHI T; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Surface Science Letters, 2002年09月, 査読有り
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      • Fabrication of Nanometer-Scale Pattern Using Current-Controlled Scanning Probe Lithography
        MIYAZAKI Takashi; KOBAYASHI Kei; YAMADA Hirofumi; HORIUCHI Toshihisa; MATSUSHIGE Kazumi
        Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes, 2002年07月30日
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      • Experimental Study on Energy Dissipation Induced by Displacement Current in Non-contact Aomic Force Microscopy Imaging of Molecular Thin Films
        FUKUMA T; UMEDA K; KOBAYASHI K; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers, 2002年07月, 査読有り
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      • Dynamic force microscopy using FM detection in various environments
        K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 2002年03月28日, 査読有り
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      • Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigations of local optical and electrical properties
        N. Satoh; K. Kobayashi; S. Watanabe; T. Fujii; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 2002年03月28日, 査読有り
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      • Local Structures and Electrical Properties of Organic Molecular Films Investigated by Non-contact Atomic Force Microscopy
        YAMADA H; FUKUMA T; UMEDA K; KOBAYASHI K; MATSUSHIGE K
        Applied Surface Science, 2002年03月, 査読有り
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      • Resonance tracking ultrasonic atomic force microscopy
        K. Kobayashi; H. Yamada; K. Matsushige
        Surface and Interface Analysis, 2002年02月, 査読有り
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      • Analog frequency modulation detector for dynamic force microscopy
        K. Kobayashi; H. Yamada; H. Itoh; T. Horiuchi; K. Matsushige
        Review of Scientific Instruments, 2001年12月, 査読有り
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      • Alkanethiol self-assembled monolayers on Au(111) surfaces investigated by non-contact AFM
        Fukuma T; Horiuchi T; Kobayashi K; Matsushige K; Yamada H
        Applied Physics A: Materials Science and Processing, 2001年12月, 査読有り
      • Structures and local electrical properties of ferroelectric polymer thin films in thermal process investigated by dynamic-mode atomic force microscopy
        FUKUMA T; KOBAYASHI K; HORIUCHI T; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Thin Solid Films, 2001年11月, 査読有り
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      • Fabrication of a nanogap on a metal nanowire using scanning probe lithography
        T. Miyazaki; K. Kobayashi; T. Horiuchi; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2001年06月, 査読有り
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      • Surface potential measurement of oligothiophene ultrathin films by Kelvin probe force microscopy
        K. Umeda; K. Kobayashi; K. Ishida; S. Hotta; H. Yamada; K. Matsushige
        Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2001年06月, 査読有り
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      • Nanometer-Scale Characterization of Ferroelectric Polymer Thin Films by Variable-Temperature Atomic Force Microscopy
        FUKUMA T; KOBAYASHI K; HORIUCHI T; YAMADA H; MATSUSHIGE K
        Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers, 2000年12月, 査読有り
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      • Structures and Electrical Properties of Fullerene Thin Films on Si(111)-7×7 Surface Investigated by Noncontact Atomic Force Microscopy
        KOBAYASHI Kei; YAMADA Hirofumi; HORIUCHI Toshihisa; MATSUSHIGE Kazumi
        Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes, 2000年06月30日
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      • Normal and lateral force investigation using magnetically activated force sensors
        SP Jarvis; H Yamada; K Kobayashi; A Toda; H Tokumoto
        APPLIED SURFACE SCIENCE, 2000年04月, 査読有り
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      • Imaging of fullerene molecules on Si(111)-7×7 surface with NC-AFM
        K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 2000年04月, 査読有り
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      • Dynamic Force Microscopy Investigations of C_<60> Deposited on Si(111) Surface
        KOBAYASHI Kei; YAMADA Hirofumi; HORIUCHI Toshihisa; MATSUSHIGE Kazumi
        Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters, 1999年12月15日
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      • Alternative method for the activation and measurement of lateral forces using magnetically controlled atomic force microscopy
        S.P. Jarvis; H. Tokumoto; H. Yamada; K. Kobayashi; A. Toda
        Applied Physics Letters, 1999年12月13日, 査読有り
      • Scanning near-field optical microscopy using piezoelectric cantilevers
        H. Yamada; H. Itoh; S. Watanabe; K. Kobayashi; K. Matsushige
        Surface and Interface Analysis, 1999年, 査読有り
      • UHV-STM studies on the structures of alkanedithiol self-assembled monolayers
        K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 1999年, 査読有り
      • Investigations of C60 molecules deposited on Si(111) by noncontact atomic force microscopy
        K. Kobayashi; H. Yamada; T. Horiuchi; K. Matsushige
        Applied Surface Science, 1999年, 査読有り
      • STM studies on nanoscopic structures and electric characteristics of alkanethiol and alkanedithiol self-assembled monolayers
        K Kobayashi; T Horiuchi; H Yamada; K Matsushige
        THIN SOLID FILMS, 1998年10月, 査読有り
      • Structural study on self-assembled monolayers of alkanedithiol molecules
        K Kobayashi; J Umemura; T Horiuchi; H Yamada; K Matsushige
        JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS, 1998年03月, 査読有り
      • Structures and Electrical Properties of Self-Assembled Monolayers of Alkanethiol and Alkanedithiol
        Kei Kobayashi; Toshihisa Horiuchi; Hirofumi Yamada; Kazumi Matsushige
        MOLECULAR CRYSTALS AND LIQUID CRYSTALS SCIENCE AND TECHNOLOGY SECTION A-MOLECULAR CRYSTALS AND LIQUID CRYSTALS, 1998年, 査読有り
      • Nanoscopic analysis of the conduction mechanism in organic positive temperature coefficient: Composite materials
        K Matsushige; K Kobayashi; N Iwami; T Horiuchi; E Shitamori; M Itoh
        THIN SOLID FILMS, 1996年02月, 査読有り

      MISC

      • 原子間力顕微鏡による有機分子・生体試料の分子分解能観察
        山田 啓文; 小林 圭
        印刷雑誌, 2005年08月19日
      • 京都インスツルメンツ
        小林 圭
        高分子, 2000年10月01日
      • FM-AFMによるカルサイト表面の水和構造の原子分解能観察 (特集 水が関係する結晶成長のトピックス)
        荒木 優希; 塚本 勝男; 高木 良介; 宮下 知幸; 大藪 範昭; 小林 圭; 山田 啓文
        日本結晶成長学会誌 Journal of the Japanese Association for Crystal Growth, 2015年
      • 周波数変調原子間力顕微鏡による抗体分子の高分解能観察
        山田 啓文; 小林 圭
        生物物理, 2016年03月
      • 合成ポリペプチドとマグネシウムの添加によるカルサイト表面の原子レベルの水和構造の変化
        荒木優希; 塚本勝男; 高木良介; 宮下知幸; 大藪範昭; 小林圭; 山田啓文
        結晶成長国内会議予稿集(CD-ROM), 2013年
      • 原子間力顕微鏡を用いた単接合型ナノギャップ電極における抵抗スイッチング現象のその場観察
        石田大貴; 小林圭; 松重和美; 清水哲夫; 内藤泰久; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2012年02月29日
      • 点接触電流イメージングAFMを用いた有機薄膜トランジスタにおける局所電気特性評価
        木村知玄; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2012年
      • 多角的評価に向けたカーボンナノチューブ宙空架橋構造の作製(3)
        池田尚弘; 伊藤正尚; 小林圭; 宮戸祐治; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2012年
      • 周波数変調検出方式高周波静電気力顕微鏡法を用いたカーボンナノチューブの局所欠陥評価
        池田尚弘; 宮戸祐治; 小林圭; 野田啓; 山田啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2012年
      • FM‐AFMによるカルサイト結晶表面の水和構造その場観察
        荒木優希; 塚本勝男; 高木良介; 宮下知幸; 大藪範昭; 小林圭; 山田啓文
        結晶成長国内会議予稿集(CD-ROM), 2012年
      • エレクトロマイグレーション法による単接合型抵抗スイッチング素子の作製
        石田大貴; 小林圭; 松重和美; 清水哲夫; 内藤泰久; 山田啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年08月16日
      • 単接合型Ptナノギャップ電極の抵抗スイッチング特性に与える配線抵抗の影響
        石田大貴; HAN Jiwon; 宮戸祐治; 小林圭; 松重和美; 清水哲夫; 内藤泰久; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年03月09日
      • ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による微小サイズ試料の表面電位測定における定量性
        伊藤正尚; 西立司; 細川義浩; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年
      • 点接触電流イメージングAFMによるペンタセン薄膜の局所電気特性の評価
        木村知玄; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年
      • 多角的評価に向けたカーボンナノチューブ宙空架橋構造の作製
        宮戸祐治; 池田尚弘; 小林圭; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年
      • カーボンナノチューブの表面電位の定量解析法
        西立司; 伊藤正尚; 宮戸祐治; 大藪範昭; 小林圭; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年
      • 多角的評価に向けたカーボンナノチューブ宙空架橋構造の作製(2)
        池田尚弘; 伊藤正尚; 小林圭; 宮戸祐治; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2011年
      • アラゴナイト形成過程原子分解能その場観察
        荒木優希; 木村勇気; 塚本勝男; 高木良介; 宮下知幸; 大藪範昭; 小林圭; 山田啓文
        結晶成長国内会議予稿集(CD-ROM), 2011年
      • 簡易真空下における探針-試料間相互作用力・トンネル電流同時検出
        宮戸祐治; 小林圭; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2010年
      • ケルビンプローブ原子間力顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ上の表面/空間電位分布測定
        伊藤正尚; 西立司; 細川義浩; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美
        応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM), 2010年
      • ストロボ走査型ゲート顕微鏡によるカーボンナノチューブの欠陥評価
        宮戸祐治; 小林圭; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2010年
      • 密度勾配超遠心分離法による(6,5)SWNTの単離とその配向制御および電気特性評価
        金子勝弘; 宮戸祐治; 小林圭; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2010年
      • バイアス-フォースカーブ法によるCN-FETデバイス上における3次元静電気力マッピング
        西立司; 宮戸祐治; 大藪範昭; 小林圭; 松重和美; 山田啓文
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM), 2010年
      • 低温環境下における金属ナノギャップ電極の抵抗スイッチング現象評価
        水上貴博; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美; 清水哲夫; 内藤泰久
        応用物理学会学術講演会講演予稿集, 2009年09月08日
      • 合成ポリペプチド添加によるカルサイト基板上でのアラゴナイト核形成―FM‐AFMによる原子分解能その場観察―
        荒木優希; 塚本勝男; 丸山美帆子; 宮下知幸; 山田啓文; 小林圭; 大藪範昭
        結晶成長国内会議予稿集, 2009年
      • 単接合ナノギャップスイッチのAFMによる構造変化観察
        水上貴博; 宮戸祐治; 小林圭; 山田啓文; 松重和美; 清水哲夫; 内藤泰久
        応用物理学関係連合講演会講演予稿集, 2008年03月27日
      • Local potential imaging of a multilayer ceramic capacitor using Kelvin Probe force microscopy
        T. Komatsubara; S. Higuchi; K. Nishikata; N. Satoh; K. Kobayashi; H. Yamada
        Microscopy and Microanalysis, 2008年, 査読有り
      • Photocatalytic hydrogen production from gas-phase methanol and water with nanocrystalline TiO2 thin films in high vacuum
        K. Noda; M. Hattori; K. Amari; K. Kobayashi; T. Horiuchi; K. Matsushige
        Materials Research Society Symposium Proceedings, 2008年, 査読有り
      • Electrical Characterisitics of ferritin cores Investegated by Kelvin Probe Force Microscopy
        Shin-ichi Yamamoto; Kei Kobayashi; Hirofumi Yamada; Hideki Yoshioka; Yukiharu Uraoka; Takashi Fuyuki; Ichiro Yamashita
        PROCEEDINGS OF THE 17TH INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS/13TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SURFACE SCIENCE/INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008年, 査読有り
      • 走査型容量顕微鏡によるMOSFET動作時の不純物分布計測
        臼田 宏治; 木村 建次郎; 小林 圭; 山田 啓文
        表面科学, 2007年
      • 誘電泳動による分子配向 −単一/少数分子デバイス構築に向けて−
        宮戸 祐治; 小林 圭; 松重 和美; 山田 啓文
        機能材料, 2006年
      • TWO-DIMENSIONAL CARRIER PROFILING ON OPERATING SIMOSFET BY SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPY
        K. Kimura; K. Kobayashi; H. Yamada; K. Usuda; K. Matsushige
        Proceedings of the 8th International Workshop on the Fabrication, Characterization and Modeling of Ultra Shallow Junctions in Semiconductors, 2005年
      • Surface Potential measurement on organic ultrathin film by Kelvin probe force microscopy using a piezoelectric cantilever
        K. Kobayashi; H. Yamada; K. Umeda; T. Horiuchi; S. Watanabe; T. Fujii; S. Hotta; K. Matsushige
        Applied Physics A: Materials Science and Processing, 2001年, 査読有り
      • 超高真空非接触原子間力顕微鏡による有機分子の高分解能観察
        小林 圭; 山田 啓文; 堀内 俊寿; 松重 和美
        電子情報通信学会技術研究報告. OME, 有機エレクトロニクス, 1998年10月23日
      • The Molecular Arrangements of Alkanethiol Self-Assembled Monolayers on Au(111) Studied by Scanning Tunneling Microscopy.
        Kobayashi Kei; Yamada Hirofumi; Horiuchi Toshihisa; Matsushige Kazumi
        Japanese Journal of Applied Physics, 1998年

      産業財産権

      • 薄膜及びその製造方法(THIN FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME)
      • 物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡
      • 走査型プローブ顕微鏡
      • 走査型プローブ顕微鏡
      • 特願2019-139696, 計測装置、原子間力顕微鏡、および計測方法
        小林 圭; 木村 邦子; 山田 啓文

      受賞

      • 2002年09月24日
        社団法人応用物理学会, 第12回応用物理学会講演奨励賞
      • 2004年07月21日
        日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会, 平成15年度ナノプローブテクノロジー賞
      • 2008年11月13日
        社団法人日本表面科学会, 平成20年度日本表面科学会技術賞
      • 2008年11月13日
        日本表面科学会, 日本表面科学会技術賞
      • 2004年07月21日
        日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会, ナノプローブテクノロジー賞
      • 2002年09月24日
        応用物理学会, 応用物理学会講演奨励賞

      外部資金：科学研究費補助金

      • 液中原子間力顕微鏡におけるエネルギー散逸機構の解明と物性・機能計測への展開
        基盤研究(B)
        小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
        京都大学
        小林 圭
        自 2019年04月01日, 至 2022年03月31日, 完了
        原子間力顕微鏡;固液界面;エネルギー散逸
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19H02598/
      • 高分解能原子間力顕微鏡・分光法による生体分子間認識・相互作用力の直接可視化
        基盤研究(S)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2017年05月31日, 至 2022年03月31日, 完了
        原子間力顕微鏡;フォースマッピング;単一分子イメージング;単一分子分光;ナノ計測;走査プローブ顕微鏡
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17H06122/
      • ３次元フォース解析による生体分子－溶液界面の構造・機能可視化
        基盤研究(A)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2017年04月01日, 至 2018年03月31日, 中途終了
        FM-AFM;３次元フォースマッピング;特異結合力;水和殻;走査プローブ顕微鏡
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17H01059/
      • 走査型熱雑音顕微鏡による表面下構造可視化のメカニズム解明および応用可能性探索
        挑戦的萌芽研究
        京都大学
        小林 圭
        自 2016年04月01日, 至 2018年03月31日, 完了
        走査型プローブ顕微鏡;原子間力顕微鏡;接触粘弾性;表面下構造;カンチレバー;超音波;表面構造可視化;表面下構造可視化
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16K13686/
      • 原子間力顕微鏡を用いた固液界面における構造ゆらぎと水和構造との相関に関する研究
        基盤研究(B)
        京都大学
        小林 圭
        自 2016年04月01日, 至 2019年03月31日, 完了
        走査プローブ顕微鏡;原子間力顕微鏡;固液界面;３次元フォースマッピング;瞬時周波数法;固液界面物性;3次元フォースマッピング
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16H03870/
      • ３次元フォースマッピング法による生体分子の揺らぎ計測
        挑戦的萌芽研究
        京都大学
        山田 啓文
        自 2014年04月01日, 至 2016年03月31日, 完了
        走査プローブ顕微鏡;3次元フォースマッピング技術;３次元フォースマッピング技術
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26600101/
      • 局所加熱型走査ゼーベック顕微鏡の開発と高性能有機熱電材料の探索
        挑戦的萌芽研究
        京都大学
        小林 圭
        自 2013年04月01日, 至 2015年03月31日, 完了
        原子間力顕微鏡;熱電材料;カンチレバー光熱励振;通電加熱カンチレバー;走査プローブ顕微鏡;光熱励振
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-25600097/
      • 3次元フォースマップ法による生体分子表面の水和構造・電荷分布の可視化と相関の解明
        基盤研究(B)
        京都大学
        小林 圭
        自 2013年04月01日, 至 2016年03月31日, 完了
        走査プローブ顕微鏡;原子間力顕微鏡;FM-AFM;フォースマッピング;固液界面
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-25286057/
      • 3次元フォースマッピング法による生体分子-溶液界面の構造・機能可視化
        基盤研究(A)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2012年04月01日, 至 2013年03月31日, 中途終了
        走査プローブ顕微鏡;水和構造;フォースマップ
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-24246016/
      • 複合機能プローブシステムによるバイオ・ナノ材料の分子スケール機能可視化
        基盤研究(S)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2012年05月31日, 至 2017年03月31日, 完了
        ナノ計測;原子間力顕微鏡;水和構造計測;3次元フォースマップ;３次元フォースマップ
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-24221008/
      • 液中環境におけるナノスケール表面電荷分布計測
        若手研究(A)
        京都大学
        小林 圭
        自 2010年04月01日, 至 2013年03月31日, 完了
        走査プローブ顕微鏡;原子間力顕微鏡;カンチレバー;溶液環境
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22686007/
      • 多探針原子間力顕微鏡による超音波探傷検査法の開発
        挑戦的萌芽研究
        京都大学
        小林 圭
        自 2010年04月01日, 至 2012年03月31日, 完了
        走査型プローブ顕微鏡;多探針;超音波
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22656013/
      • 周波数検出型AFMに基づく大気・液中ナノ空間関計測・制御法の開発
        基盤研究(S)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2007年04月01日, 至 2012年03月31日, 完了
        走査型プローブ顕微鏡;マルチAFMプローブ技術;ナノ空間相関;ナノ刺激応答;液中高分解能;生体分子;FM-AFM;KFM;振動散逸エネルギー;有機分子薄膜;液中高分解能イメージング;生体分子イメージング;マルチプローブAFM技術;駅流高分解能イメージング;生体イメージング;静電気力マッピング
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19106001/
      • 新規ナノプローブ計測法によるカーボンナノチューブの電気・力学物性評価
        特定領域研究
        理工系
        京都大学
        山田 啓文
        自 2007年04月01日, 至 2012年03月31日, 完了
        カーボンナノチューブ;原子間力顕微鏡(AFM);ケルビンプローブAFM;周波数変調(FM)検出法;高分解能マルチプローブAFM;密度勾配遠心分離;誘電泳動;3次元フォースマップ;表面電位計測;AFMポテンショメトリー;走査ゲート顕微鏡;高分解能マルチプローブ技術;AFMポテンショメトー;高分解能マルチプローブ計測;表面電位;点接触AFM
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PLANNED-19054010/
      • 多重反射方式マイクロカンチレバーアレイを用いた高感度バイオセンサーの開発
        萌芽研究
        京都大学
        小林 圭
        自 2006年04月01日, 至 2008年03月31日, 完了
        走査型プローブ顕微鏡
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18651056/
      • 有機強誘電体超薄膜を用いたローラブル超高感度赤外イメージセンサーの開発
        基盤研究(B)
        神戸大学
        石田 謙司
        自 2006年04月01日, 至 2009年03月31日, 完了
        強誘電体;有機分子;薄膜;構造制御;赤外センサー;フレキシブル;焦電;有機材料;超薄膜;誘電体物性;赤外センサ
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18360147/
      • 有機強誘電体ダイポールによる半導体蓄積制御と不揮発メモリ応用
        基盤研究(A)
        京都大学
        松重 和美
        自 2006年04月01日, 至 2009年03月31日, 完了
        強誘電体;有機分子;不揮発メモリ;界面;トランジスタ型メモリ;ナノデバイス;空乏層;半導体;不揮発性メモリ
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18206033/
      • 走査プローブ法による少数分子系の界面近傍分極の評価と制御
        基盤研究(A)
        京都大学
        山田 啓文
        自 2002年04月01日, 至 2005年03月31日, 完了
        ダイナミックモード原子間力顕微鏡;DFM;NC-AFM;ケルビンプローブ原子間力顕微鏡;KFM;分子分解能観察;分子分極;周波数変調検出法;局所電解制御;ナノスケール分極制御;フタロシアニン分子;強誘電性高分子;ダイナミック分極処理;非接触原子間力顕微鏡;アルカンチオール;単一分子物性評価;周波数検出;VDFオリゴマー, dynamic force microscopy;DFM;NC-AFM;Kelvin-probe force microscopy;KFM;molecular-resolution imaging;molecular polarization;frequency modulation detection method
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-14205009/
      • 分子間相互作用を用いた分子の同定と制御
        特定領域研究
        理工系
        京都大学
        山田 啓文
        自 1999年04月01日, 至 2003年03月31日, 完了
        非接触原子間力顕微鏡;NC-AFM;エネルギー散逸像;ケルビンプローブフォース顕微鏡;KFM;表面電位;分子種識別;分子振動;エネルギー散逸;有機金属界面;分子分極;分子分解能観察;フラーレン分子;ケルビンプローブ顕微鏡;化学修飾探針;自己組織化膜;原子分解能観察;FM検出法;位相同期ループ回路;フラーレン;アルカンチオール
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-11226203/
      • 液中原子分解能探針増強ラマン分光顕微鏡による電極・触媒反応機構の解明
        基盤研究(A)
        中区分29:応用物理物性およびその関連分野
        京都大学
        小林 圭
        自 2022年04月01日, 至 2025年03月31日, 交付
        原子間力顕微鏡;探針増強ラマン分光;触媒;電極反応;ナノカーボン
        https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22H00294/
      list
        Last Updated :2025/04/29

        教育

        担当科目

        • 自 2024年04月01日, 至 2025年03月31日
          電気電子工学実験
          6201, 前期, 工学部, 2
        • 自 2024年04月01日, 至 2025年03月31日
          電気電子材料学
          6043, 後期, 工学部, 2
        • 自 2024年04月01日, 至 2025年03月31日
          表面電子物性工学
          C819, 前期, 工学研究科, 2
        • 自 2023年04月01日, 至 2024年03月31日
          電気電子工学実験
          6201, 前期, 工学部, 2
        • 自 2023年04月01日, 至 2024年03月31日
          電気電子材料学
          6043, 後期, 工学部, 2
        • 自 2023年04月01日, 至 2024年03月31日
          表面電子物性工学
          C819, 前期, 工学研究科, 2
        • 自 2023年04月01日, 至 2024年03月31日
          分子エレクトロニクス
          C816, 前期, 工学研究科, 2
        • 自 2022年04月01日, 至 2023年03月31日
          電気電子工学実験
          6201, 前期, 工学部, 2
        • 自 2022年04月01日, 至 2023年03月31日
          表面電子物性工学
          C819, 前期, 工学研究科, 2
        • 自 2022年04月01日, 至 2023年03月31日
          電気電子材料学
          6043, 後期, 工学部, 2
        • 自 2013年10月, 至 2014年03月
          電気電子工学実験B
          後期, 工学研究科
        • 自 2014年10月, 至 2015年03月
          電気電子工学実験B
          後期, 工学研究科
        • 自 2015年10月, 至 2016年03月
          電子電気工学実験B
          後期, 工学研究科
        • 自 2017年04月, 至 2018年03月
          分子エレクトロニクス
          前期, 工学研究科
        • 自 2017年04月, 至 2018年03月
          表面電子物性工学
          前期, 工学研究科
        • 自 2017年04月, 至 2018年03月
          電気電子工学実験
          前期, 工学部
        • 自 2017年04月, 至 2018年03月
          電気電子材料学
          後期, 工学部
        • 自 2018年04月, 至 2019年03月
          表面電子物性工学
          前期, 工学研究科
        • 自 2018年04月, 至 2019年03月
          電気電子工学実験
          前期, 工学部
        • 自 2018年04月, 至 2019年03月
          電気電子材料学
          後期, 工学部
        • 自 2019年04月, 至 2020年03月
          分子エレクトロニクス
          前期, 工学研究科
        • 自 2019年04月, 至 2020年03月
          表面電子物性工学
          前期, 工学研究科
        • 自 2019年04月, 至 2020年03月
          電気電子工学実験
          前期, 工学部
        • 自 2019年04月, 至 2020年03月
          電気電子材料学
          後期, 工学部
        • 自 2020年04月, 至 2021年03月
          表面電子物性工学
          前期, 工学研究科
        • 自 2020年04月, 至 2021年03月
          電気電子工学実験
          前期, 工学部
        • 自 2020年04月, 至 2021年03月
          電気電子材料学
          後期, 工学部
        • 自 2021年04月, 至 2022年03月
          分子エレクトロニクス
          前期, 工学研究科
        • 自 2021年04月, 至 2022年03月
          表面電子物性工学
          前期, 工学研究科
        • 自 2021年04月, 至 2022年03月
          電気電子工学実験
          前期, 工学部
        • 自 2021年04月, 至 2022年03月
          電気電子材料学
          後期, 工学部

        博士学位審査

        • Molecular-Level Understanding of Ionic Liquid/Solid Interfaces: Atomic Force Microscopy Study(原子間力顕微鏡によるイオン液体/固体界面の分子レベル解析)
          鮑　一帆, 工学研究科, 副査
          2024年03月25日
        • Molecular-Level Understanding of Ionic Liquid/Solid Interfaces: Atomic Force Microscopy Study(原子間力顕微鏡によるイオン液体/固体界面の分子レベル解析)
          鮑　一帆, 工学研究科, 副査
          2024年03月25日
        • Study on Forming and Resistive Switching Phenomena in Tantalum Oxide for Analog Memory Devices(アナログメモリ素子応用に向けたタンタル酸化物におけるフォーミングおよび抵抗変化現象に関する研究)
          宮谷　俊輝, 工学研究科, 副査
          2023年03月23日
        • Short Channel Effects and Mobility Improvement in SiC MOSFETs (SiC MOSFETにおける短チャネル効果と移動度向上に関する研究)
          立木　馨大, 工学研究科, 副査
          2022年03月23日

        非常勤講師

        • 自 2015年07月01日, 至 2015年07月31日
          特別講義Ⅰ「ナノ計測工学」
          神戸大学, 工学部
        list
          Last Updated :2025/04/29

          大学運営

          全学運営(役職等)

          • 自 2010年04月01日, 至 2011年03月31日
            京都大学情報環境機構 ＫＵＩＮＳ利用負担金検討委員会 委員
          • 自 2011年04月01日, 至 2013年03月31日
            ローム記念館運営ワーキンググループ 2号委員

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