基本情報

全学メールアドレス

• 全学メールアドレス

  zhang.ruilin.5wkyoto-u.ac.jp

所属学協会

• 自 2020年01月, 至 現在

  IEEE Solid-State Circuits Society
• 自 2019年03月, 至 現在

  IEEE

学位

• 2017年09月15日

  早稲田大学修士（工学）
• 2022年05月23日

  早稲田大学博士（工学）

出身大学院・研究科等

• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科情報生産システム工学専攻博士後期課程, 研究指導認定退学
• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科情報生産システム工学専攻博士前期課程, 修了
• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科情報生産システム工学専攻 博士前期課程, 修了
• 早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科情報生産システム工学専攻 博士後期課程, 研究指導認定退学

出身学校・専攻等

• 北京化工大学, 信息科学と技術学院 自動制御学科専攻, 卒業
• 銀川外国語実験学校, 卒業

ID,URL

• ORCID ID

  0000-0001-6807-0521

• J-Global ID

  202301019232421968

researchmap URL

• https://researchmap.jp/789012301010

研究

研究キーワード

• ハードウェアセキュリティ 真乱数発生器 後処理アルゴリズム

論文

• De-Correlation and De-Bias Post-Processing Circuits for True Random Number Generator

  Ruilin Zhang; Haochen Zhang; Xingyu Wang; Ye Ziyang; Kunyang Liu; Shinichi Nishizawa; Kiichi Niitsu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2024年

  
• A 0.116 pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Static Inverter Selection and Noise Enhancement

  Xingyu Wang; Ruilin Zhang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2024年

  
• A 100-Bit-Output Modeling Attack-Resistant SPN Strong PUF with Uniform and High-Randomness Response

  Kunyang Liu; Yichen Tang; Shufan Xu; Ruilin Zhang; Hirofumi Shinohara

  2023 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2023年04月

  
• Effect of Quadruple Size Transistor on SRAM Physically Unclonable Function Stabilized by Hot Carrier Injection

  Shufan Xu; Kunyang Liu; Yichen Tang; Ruilin Zhang; Hirofumi Shinohara

  2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023年03月27日

  
• A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

  Ruilin Zhang; Xingyu Wang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2022年08月, 査読有り

  
• A 0.116pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator with Static Inverter Selection and Noise Enhancement

  Xingyu Wang; Ruilin Zhang; Yuxin Wang; Kunyang Liu; Xuanzhen Wang; Hirofumi Shinohara

  2022 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2022年04月18日, 査読有り

  
• A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator with Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

  Ruilin Zhang; Xingyu Wang; Luying Wang; Xinpeng Chen; Fan Yang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  2021 Symposium on VLSI Circuits, 2021年06月13日, 査読有り, 筆頭著者

  
• Energy-Efficient Post-Processing Technique Having High Extraction Efficiency for True Random Number Generators

  Zhang, R.; Wang, X.; Shinohara, H.

  IEICE Transactions on Electronics, 2021年

  
• An Inverter-Based True Random Number Generator with 4-bit Von-Neumann Post-Processing Circuit

  Xingyu Wang; Hongjie Liu; Ruilin Zhang; Kunyang Liu; Hirofumi Shinohara

  2020 IEEE 63RD INTERNATIONAL MIDWEST SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (MWSCAS), 2020年, 査読有り

  
• High-throughput Von Neumann post-processing for random number generator

  Ruilin Zhang; Sijia Chen; Chao Wan; Hirofumi Shinohara

  2018 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2018年04月, 査読有り, 筆頭著者

  

受賞

• 2023年04月18日

  Best paper award(IEEE, The 2022 International Symposium on VLSI Design, Automat)